Electronic speckle pattern interferometry applied to shape and deformation measurement
- Författare
- Tekniska högskolan i Stockholm Wei An
- (Wei An., Härtill 4 uppsatser, Lic.-avh. (sammanfattning) Stockholm : Tekn. högsk.)
- Genre
- Ej skönlitteratur
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| 2000 | Sverige, Stockholm | 39 sidor. ill. 24 cm |